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今天ICP光譜儀小編為您介紹玻璃熔片法的優(yōu)點，一起來了解吧。
在使用X射線熒光光譜儀檢測粉末時，不均勻性和粒度效應可以通過研磨和高壓制餅(樣片)降低。但由于特殊基體中的較硬的化合物不能被破壞，這兩種效應常常不能完全消除。在以硅酸化合物的為主的爐渣、燒結物和某些礦物等特定類型材料的分析中，這種效應會導致系統(tǒng)誤差。
光譜儀玻璃熔片法是將樣品與熔劑(四硼酸鋰等)與脫模劑、氧化劑儀器放在適當?shù)嫩釄逯校?000~1250°C溫度下熔融、混均勻，快速冷卻后，制成玻璃片。也就是說玻璃片法是以高溫下的化學分解反應為基礎的，而為了得到均勻的固態(tài)玻璃體，則需要9控制镕融物冷卻過程。儀硼酸鹽為例子，熔融狀態(tài)下的化學反應將樣品中的各相轉化為玻璃臺的硼鹽酸(有關硼砂熔融法的詳細原理，可查閱《X射線熒光光譜儀》)。比如用四硼酸鈉(或四硼酸鋰)熔劑可以得到樣品元素的玻璃態(tài)硼酸鹽，但所經(jīng)過的化學反應步驟可能相當多。最終反應產(chǎn)物的分布在很大程度上取決于反應溫度以及初始樣品與硼砂的質量比。重要的是要避免該反應系統(tǒng)玻璃區(qū)以外的產(chǎn)品的形成。
實際上，熔融的木點有兩個，第一個是使樣品中的化合物與混合溶劑完全反應形成真溶液，第二個是使溶體冷卻形成固態(tài)玻璃體(即完全非晶質)，得到均勻、可控制尺寸的玻璃片，可直接放入光譜儀進行測量。實現(xiàn)這兩個目標，即可賦予玻璃片法以下優(yōu)勢：1.消除了礦物效應、粒度效應等造成的不均勻性效應;2.因熔劑的稀釋作用，共存元素效應減少;3.可使用試劑配制標準樣品;4.分析主要成分元素時的樣品用量小;5.使用使用高精度的分析儀器成為了可能。這種多用于氧化物粉末，主要用于波長色散X熒光光譜儀定量分析中。
以上就是玻璃熔片法的優(yōu)點，如果您還有什么關于光譜儀的問題都可以聯(lián)系ICP光譜儀小編。
